天瑞儀器 EDX-V 是一款 X 射線熒光鍍層測厚及成分分析儀，以下是其詳細介紹1：
采用多導毛細管 X 射線光學系統，利用 X 射線熒光原理，當 X 射線照射到樣品上時，樣品中的元素會被激發產生特征 X 射線熒光，通過檢測這些熒光的能量和強度來分析鍍層的成分和厚度。
近光路系統：結合鍍層行業微小樣品檢測需求，研發適用于鍍層檢測的超近光路系統，減少能量過程損耗。
聚焦技術：搭載優良的多導毛細管聚焦管，聚焦強度提升 1000 - 10000 倍，具有更高的檢測靈敏度、分析精度和高計數率，保證測試結果精確穩定。
相機設計：全景 + 微區雙相機設計，呈現全高清廣角視野，樣品觀察更全面，微米級別分辨率，滿足超微產品測試。
毛細管技術：優良的多導毛細管技術，信號強度比金屬準直系統高出幾個數量級，還有多規格可選的多導毛細管，滿足用戶不同測試需求。
移動平臺與定位系統：高精度 XYZ 軸移動測試平臺，結合雙激光點位定位系統，可實現在樣品測試過程中的全自動化，一鍵點擊，測試更省心。
測量超微小部件和結構：如印制線路板、連接器或引線框架等。
分析超薄鍍層：如厚度薄至 2nm 的 Au 鍍層和≤30nm 的 Pd 鍍層。
測量電子和半導體行業中的功能性鍍層。
分析復雜的多鍍層系統。
全自動測量：用于質量控制領域。
符合相關標準：符合 ENIG/ENEPIG 要求，以及 DIN ISO 3497、ASTM B568、IPC 4552 和 IPC 4556 標準。
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